ASTM E 1504-1992 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范
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时间:2024-05-15 13:52:10
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【英文标准名称】:StandardPracticeforReportingMassSpectralDatainSecondaryIonMassSpectrometry(SIMS)
【原文标准名称】:次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范
【标准号】:ASTME1504-1992
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1992
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:报告;外部标准;离子注入外部标准;质谱数据;次级离子质谱SIMS;光谱数据;规程;痕量元素含量;光谱测定法;质量(物质)
【英文主题词】:Mass;Massspectrometry;Practice;Spectrometry;Traceelements
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范
【标准号】:ASTME1504-1992
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1992
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:报告;外部标准;离子注入外部标准;质谱数据;次级离子质谱SIMS;光谱数据;规程;痕量元素含量;光谱测定法;质量(物质)
【英文主题词】:Mass;Massspectrometry;Practice;Spectrometry;Traceelements
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语
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